HIOKI日置直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680

電池的安全測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案，通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)

為電池的安全測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案，通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)

● 準(zhǔn)確檢查絕緣性能，驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量

● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性

● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出

● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)

● 支持廣泛的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測(cè)量功能。

專用于直流耐壓測(cè)試的高配置機(jī)型

這是提供更優(yōu)化的檢測(cè)品質(zhì)的直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680的介紹。

其性能可以支持各個(gè)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試條件，應(yīng)對(duì)所有的直流耐壓測(cè)試。

使用波形和數(shù)值驗(yàn)證絕緣性能【波形顯示功能】

ST5680是能夠基于各種安全標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行直流耐壓測(cè)試和絕緣電阻測(cè)試的測(cè)試儀。

不僅可以進(jìn)行PASS/FAIL的合格與否判定，也可以顯示、記錄測(cè)試時(shí)的輸出電壓波形和泄漏電流波形。

將測(cè)試可視化分析，有助于檢查的溯源。

輸出電壓和泄漏電流以波形顯示

可以通過波形確認(rèn)測(cè)試時(shí)輸出電壓或泄漏電流的動(dòng)向。

在確認(rèn)波形的同時(shí)，還可按時(shí)間順序確認(rèn)電壓值、泄漏電流值、電阻值。

無需使用電腦即可進(jìn)行波形放大顯示等操作，在現(xiàn)場(chǎng)就能進(jìn)行詳細(xì)的分析。

波形顯示的優(yōu)點(diǎn)

有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序

通過分析檢查時(shí)的波形，可以推斷出生產(chǎn)工序中的不良因素。通過查明不良因素，優(yōu)化生產(chǎn)工序，從而能夠提高生產(chǎn)效率。

有助于對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析

可以把收回的不合格品與當(dāng)初出廠檢測(cè)時(shí)的波形做比對(duì)。通過優(yōu)化合格品的判定標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)一步提高生產(chǎn)質(zhì)量。

有助于宣傳檢查的可靠性

波形的記錄管理有利于檢查的可溯源性，構(gòu)筑更高品質(zhì)的檢查體系，可以提升客戶的信任。

防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出[【電弧放電檢測(cè)功能】

可以檢測(cè)因?yàn)楹附用袒蚍蹓m異物等原因發(fā)生的電弧放電。

將引起輕微絕緣不良的產(chǎn)品判斷為微小故障品，可以防止出廠后因發(fā)熱原因引起的火災(zāi)事故或故障等風(fēng)險(xiǎn)。

防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)【接觸檢查功能】

通過測(cè)量端子間的電容（雜散電容、被測(cè)物的電容），能判斷是否正確連接檢測(cè)對(duì)象。

防止將不合格品誤判為合格品

?測(cè)試中測(cè)試線脫落的情況

?測(cè)試部位間電阻增加的情況

例：測(cè)試線的老化、治具或高壓繼電器的老化等

可以輕松使用

?利用兩端子可以實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的接線

適用于電池、電機(jī)、電子零件等的耐壓測(cè)試

ST5680是向測(cè)試對(duì)象輸出高電壓，測(cè)試絕緣性能的測(cè)試儀。

可以對(duì)從電子設(shè)備、電子零件、材料等的研究開發(fā)到生產(chǎn)線的廣泛對(duì)象進(jìn)行安全測(cè)試。

在電池中，用于電池模組、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測(cè)試。

可以在不考慮電容成分的情況下進(jìn)行測(cè)試

就算是測(cè)試對(duì)象含有電容成分的情況下，因?yàn)橛胁灰装l(fā)生過沖的設(shè)計(jì)，不會(huì)對(duì)測(cè)試對(duì)象輸出超過設(shè)置電壓的電壓，所以可以放心進(jìn)行測(cè)試。

另外，通過配合延遲時(shí)間的設(shè)置，也可以不對(duì)充電電流流動(dòng)的時(shí)間進(jìn)行判斷，從而防止誤判。

※可測(cè)量的最大靜電電容量值200 nF (測(cè)量更大的電容值可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量時(shí)間變長(zhǎng)，或者測(cè)量值的偏差變大。 ）

最小分辨率0.001 μA的高精度判定

隨著電池和電機(jī)等絕緣性能的提高，對(duì)判斷耐壓測(cè)試合格與否的電流值設(shè)置要求也越來越高，要求設(shè)置為更小的電流。

如果使用分辨率低的耐壓測(cè)試儀，則無法準(zhǔn)確測(cè)量泄漏電流的測(cè)量值。

ST5680實(shí)現(xiàn)了最小分辨率0.001uA的高精度規(guī)格，因此可以正確測(cè)量微小的泄漏電流，判斷合格與否。

搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測(cè)量功能

搭載了確認(rèn)測(cè)試對(duì)象絕緣擊穿電壓的BDV（Break Down Voltage）功能 。

以一定速度提高輸出電壓，確認(rèn)達(dá)到絕緣擊穿時(shí)的電壓。

測(cè)試方法按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，有連續(xù)升壓測(cè)試和逐級(jí)升壓測(cè)試。

ST5680兩種測(cè)試都可以實(shí)施?？捎糜陔姵亻_發(fā)時(shí)的性能評(píng)價(jià)(絕緣耐力評(píng)估)。

HIOKI日置直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680